一、设备简介：
头戴耳机按键寿命试验机用于头戴耳机、蓝牙耳机、耳机充电盒、助听器、手机耳机、线控耳机等开关按键寿命试验。头戴耳机按键寿命试验机是将耳机分别置于对应工位上，按压头在一定的试验荷重、速度、行程、次数下模拟对产品的使用寿命测试。
二、技术参数：
0、设备型号：RW-7010A
1、测试工位：四工位(同时测试)
2、荷重砝码：50、100、200、300、500g各四个
3、试验次数：0-99999999次(可预置，断电记忆)
4、导通次数：0-999999次(断开停止计数)
5、试验速度：5-65次/分(旋钮可调，数字显示)
6、测试行程：12mm
7、固定治具：四组可调，满足头戴耳机
8、按压装置：四组，前后左右可调
9、机台尺寸：480mm×440mm×780mm
10、工作电源：AC220V、50Hz
12、设备重量：48kg
三、设备特点：
1、箱体采用静电烤漆处理，整机设计合理结构紧固，运行稳定、安全、准确。
2、试验夹具、行程可调，应用广泛，可用于各种产品测试。
3、四组工位同时测试，测试效率大大提高。
4、试验速度、次数可调，人性化设计，操作方便快捷。
四、参考图片：
